技术支持

Technical Support

JJW实验室介绍



实验室成立于 2011 年,现有工作人员17名,其中管理人员 4 名,检测人员 13 名,签字授权人2名,中级职称人员1名,助理职称人员2名,本科学历人员6名。实验室占地面积 600 平方米,其中检测场地500平方米。2018年8月发布并实施实验室管理体系,并在2020年3月取得CNAS实验室认可证书(L13169)。实验室现有各类设备80余台,可开展可靠性试验项目30余项,浪涌过电压检测项目20余项。与中科院微电子所、西电、中车等单位存在长期合作关系。

  • 可承担检测项目
    检测能力
    参考标准
  • 温度循环

    TA:-80℃ min

    TB:200℃ max

    美军标,国标,JEDEC,IEC,AEC,客户自定义等

  • 高温反偏

    TA:200℃ max

    VR:2000V max

    美军标,国标,JEDEC,IEC,AEC,客户自定义等

  • 高温栅偏

    TA:200℃ max

    VR:2000V max

    美军标,国标,JEDEC,IEC,AEC,客户自定义等

  • 高温交流阻断

    TA:200℃ max

    VR:2000V max

    美军标,国标,JEDEC,IEC,AEC,客户自定义等

  • 高温高湿反偏

    RH:25%~98%

    TA:15℃~85℃

    VR:1600V max

    美军标,国标,JEDEC,IEC,AEC,客户自定义等

  • 间歇运行寿命

    IH:60A max

    Tj:室温~175℃

    美军标,国标,JEDEC,IEC,AEC,客户自定义等

  • 高压蒸煮/无偏高加速

    TA:105℃~ 150℃

    RH:65%~100%

    Pre.:0.019MPa~0.208MPa

    美军标,国标,JEDEC,IEC,AEC,客户自定义等

  • 高加速应力试验

    TA:105℃~ 150℃

    RH:65%~100%

    Pre.:0.019MPa~0.208MPa

    美军标,国标,JEDEC,IEC,AEC,客户自定义等

  • 分层扫描

    320mm×320mm

    15/30/50M

    A/B/C/T-Scan

    J-STD-020

    J-STD-035

    GJB548B-2005 2030

  • 包装跌落/抗压/堆码

    Pre.:0kg~900kg

    H:300mm-1500mm

    ISO 2248

    GB/T4857.5-92

    GB/T 6543

  • 高/低温存储

    Dry heat:300℃ max

    Cold: -80℃ min

    GB/T2423.1/2-2008

    JESD22-A103

    JESD22-A119

  • 回流焊

    温度:室温~300℃

    传送速度:0~1.8m/min

    J-STD-020

    GB/T 4937.20

  • 物理尺寸

    /

    JESD22-B100

  • 引脚强度

    /

    MIL-STD-750 M2036

  • 标记抗溶性

    /

    JESD22-B107

  • 耐焊接热

    满足各个等级要求

    JESD22-B106

  • 预处理

    满足各个等级要求

    美军标,国标,JEDEC,IEC,AEC,客户自定义等

  • 可焊性

    有铅、无铅均可进行

    美军标,国标,JEDEC,IEC,AEC,客户自定义等

  • 芯片焊接剪切力

    /

    MIL-STD-750 M2017

  • 稳态工作寿命

    50A/200℃

    美军标,国标,JEDEC,IEC,AEC,客户自定义等

  • 破坏性物理分析

    /

    AEC-Q101-004